Lanzhou University of Technology Institutional Repository (LUT_IR)
继电保护测试仪检测分析装置 | |
肖骏; 王晓兰; 杨贤明; 杨新华; 李建海; 何世恩; 姚旭 | |
2009-09-30 | |
专利权人 | 国家电网公司 ; 甘肃电力科学研究院 ; 兰州理工大学 |
公开日期 | 2009-09-30 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 继电保护测试仪检测分析装置,包括有硬件系统和软件系统,其特点在于:所述的硬件系统的继电保护测试仪1与电压、电流隔离调理电路2相连,电压、电流隔离调理电路2与采集卡3相连,采集卡3与高性能计算机4相连。继电保护测试仪1的开关量输出与光电隔离板5相连,光电隔离板5与采集卡3相连,继电保护测试仪1的开关量输入与接线端子板6相连,接线端子板6与继电器输出型开关量输出板7相连,开关量输出板7与计算机4相连;所述的软件系统包括有设置在计算机4上的基于LabVIEW的测量分析软件。该装置能够实现对继电保护测试仪的性能测试和评价、测试数据的自动记录与分析、测试报告的生成等,并可和测试仪组成闭环,进行交互式测试。 |
申请日期 | 2008-11-25 |
优先权日 | 2008-11-25 |
预估到期日 | 2018-11-25 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 未缴年费;权利转移 |
申请号 | CN200820177858.5 |
公开(公告)号 | CN201319063Y |
IPC 分类号 | G01R35/00 |
专利代理人 | 董斌 |
代理机构 | 兰州振华专利代理有限责任公司 |
权利要求 | 1、继电保护测试仪检测分析装置,包括有硬件系统和软件系统,其特征在于:所述的硬件系统的继电保护测试仪(1)与电压、电流隔离调理电路(2)相连,电压、电流隔离调理电路(2)与采集卡(3)相连,采集卡(3)与高性能计算机(4)相连。继电保护测试仪(1)的开关量输出与光电隔离板(5)相连,光电隔离板(5)与采集卡(3)相连,继电保护测试仪(1)的开关量输入与接线端子板(6)相连,接线端子板(6)与继电器输出型开关量输出板(7)相连,开关量输出板(7)与计算机(4)相连。 2、根据权利要求1所述的继电保护测试仪检测分析装置,其特征在于:所述的电压、电流隔离调理电路(2)包括有多个直流电压、电流隔离调理通道和多个交流电压、电流隔离调理通道。 3、根据权利要求1或2所述的继电保护测试仪检测分析装置,其特征在于:所述的电压、电流隔离调理电路(2)的交流电压隔离调理通道中,继电保护测试仪(1)输出的电压与互感器(2-1)相连,互感器(2-1)与第一放大器(2-2)相连,第一放大器(2-2)的输出通过电阻R11,R12,R13,R14与第一多路选择开关(2-3)相连,第一放大器(2-2)的输出通过接线端子与采集卡(3)相连;第一多路选择开关(2-3)的1脚和14脚分别接DSPic30F6014A芯片的并行端口;电压、电流隔离调理电路(2)的交流电流隔离调理通道中,继电保护测试仪(1)输出的电流与互感器(2-4)相连,互感器(2-4)与第二放大器(2-5)相连,第二放大器(2-5)的通过电阻R23,R24,R25,R26与第二多路选择开关(2-6)相连,第二放大器(2-5)的输出通过接线端子与采集卡(3)相连,第二多路选择开关(2-6)的1脚和14脚分别接DSPic30F6014A芯片的并行端口;电压、电流隔离调理电路(2)的直流电压隔离调理通道中,继电保护测试仪(1)输出的直流电压与电阻R31和R32的一端相连,电阻R31和R32另一端通过电阻R33与第三放大器(2-7)的第二引脚相连,第三放大器(2-7)的输出与第一光电隔离器(2-8)相连,第一光电隔离器(2-8)的输出接第四放大器(2-9),第四放大器(2-9)的输出通过接线端子与采集卡(3)相连,第三多路选择开关(2-10)的引脚1和14分别接DSPic30F6014A芯片的并行端口;电压、电流隔离调理电路(2)的直流电流隔离调理通道中,继电保护测试仪(1)输出的直流电流与电阻R41相连,其输出与第五放大器(2-11)相连,第五放大器(2-11)的输出与第二光电隔离器(2-12)相连,第二光电隔离器(2-12)接第六放大器(2-13),第六放大器(2-13)的输出通过接线端子与采集卡(3)相连,第四多路选择开关(2-14)的引脚1和14分别接DSPic30F6014A芯片的并行端口。 |
被引用专利数量 | 2 |
简单法律状态 | 失效 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | https://ir.lut.edu.cn/handle/2XXMBERH/110003 |
专题 | 兰州理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖骏,王晓兰,杨贤明,等. 继电保护测试仪检测分析装置[P]. 2009-09-30. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN201319063Y.PDF(566KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 请求全文 |
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