IR
Cr20Ni35合金的晶粒尺寸对电阻率的影响
蔺伟康; 王晓军; 夏天东
2015-06-15
Source Publication金属功能材料
ISSNISSN:1005-8192
Issue2015年03期Pages:22-24
Abstract通过拉伸变形和再结晶退火改变Cr20Ni35合金的晶粒尺寸,研究晶粒尺寸对Cr20Ni35合金电阻率的影响。结果表明,Cr20Ni35合金经过拉伸变形后,随着伸长率的增加其电阻率出现递减的趋势,此时晶粒尺寸呈现递增的趋势;随后经过退火后,其电阻率值又重新升高,分析观察其金相组织,晶粒尺寸越小,电阻率越大。
KeywordCr20Ni35合金 拉伸变形 再结晶退火 晶粒尺寸 电阻率
DOI10.13228/j.boyuan.issn1005-8192.2015023
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Indexed ByCNKI
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.lut.edu.cn/handle/2XXMBERH/7116
Collection兰州理工大学
材料科学与工程学院
省部共建有色金属先进加工与再利用国家重点实验室
Affiliation1.兰州理工大学省部共建有色金属先进加工与再利用国家重点实验室
2.兰州理工大学材料科学与工程学院
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GB/T 7714
蔺伟康,王晓军,夏天东. Cr20Ni35合金的晶粒尺寸对电阻率的影响[J]. 金属功能材料,2015(2015年03期):22-24.
APA 蔺伟康,王晓军,&夏天东.(2015).Cr20Ni35合金的晶粒尺寸对电阻率的影响.金属功能材料(2015年03期),22-24.
MLA 蔺伟康,et al."Cr20Ni35合金的晶粒尺寸对电阻率的影响".金属功能材料 .2015年03期(2015):22-24.
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